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静岡大学 浜松キャンパス共同利用機器センター

TEL. 053-478-1756

〒432-8561 静岡県浜松市中区城北3-5-1

機器(機器一覧機器配置図INSTRUMENTS

     

機器一覧 総合研究棟1F


No. 機器名(型番) 機器・用途 メーカー アドバイザ 担当 サブ担当 設置部屋 課金単位
1 汎用AFM
(SPI3800)
最大20μm四方の表面観察 セイコーインスツル 岩田 三宅 石川 102 半日
2 簡易AFM
(VN-8010)
最大200μm四方の表面観察 キーエンス 岩田 友田 石川 102 半日
3 TEM
(JEM-2000RXII)
透過電顕 日本分光 坂元 高橋 村上 103 半日
4 SPM
(JSPM-5200)
AFMおよびSTM観察 日本電子 岩田 友田 石川 102 半日
5 粉末XRD
(RINT2200)
粉末X線回折 リガク 奥谷 三宅 石川 103 半日
6 高機能XRD
(ATXG)
薄膜X線回折 リガク 脇谷 三宅 石川 103 半日
7 ICP
(Optima 2100DV)
溶液中の元素の定量 パーキンエルマー 江上 石川/三宅 104 半日
8 熱分析
(DTG-60A)
耐熱温度・熱量の計測 島津 戸田 草薙 石川/三宅 104 半日
9 DSC
(DSC60Plus)
示差走査熱測定 島津 根尾 草薙 石川/三宅 104 半日
10 元素分析
(Flash EA)
元素分析 サーモエレクトロン 戸田 草薙 石川/三宅 104 半日
11 原子吸光
(Solar S4-AA)
吸光による元素分析 サーモエレクトロン 前田 草薙 石川/三宅 104 半日
12 電気化学計測(Solartron 1280Z) 交流インピーダンスサイクリックボルタンメトリ 東陽テクニカ 村上 草薙 村上 104 半日
13 蛍光X線
(EDX-8000)
元素分析 島津 村上 三宅 石川 104 1時間
14 デジタルマイクロスコープ
(KH-8700)
35-2500倍、3D観察も可能 Hirox 下村 三宅 石川 104 1時間
15 ESCA
(ESCA-3400)
光電子による表面原子同定 島津 友田 友田 石川 104 1日
16 汎用SEM
(S-3000N)
2次電子表面観察 日立ハイテク 友田 平田 三宅 104 半日
17 イオンコータ
(SC-701AT)
SEM用金コート サンユー電子 村上 友田 三宅 104 1時間
18 イオンミリング
(EM RES101)
イオンビームを使ったTEM用試料の作製 LEICA 村上 友田 石川 104 半日
19 ソフトエッチング
(JEC-560)
表面クリーニング メイワフォーシーズ 村上 友田 三宅 104 1時間
20 カーボン蒸着機
(JEC-560)
SEM用カーボン蒸着機 日本電子 石川 三宅 友田 104 1時間
21 白金スパッタ
(JFC-1600)
SEM用白金スパッタ 日本電子 石川 友田 三宅 104 1時間
22 断面ポリッシャ
(IB-09020 CP)
断面試料作製 日本電子 石川 小山 友田 104 半日
23 その場計測FE-SEM
(JSM-7001F)
高分解能表面形態観察、元素分析、結晶相解析 日本電子、他 村上 友田 石川 104 2時間
24 FE-EPMA
(JXA-8530F)
微量組成分析 日本電子 村上 小山 村上 104 半日
25 SEM/EDS
(JSM-6360LA/JED-2300)
表面観察と元素分析 日本電子 石川 三宅 石川 10F 半日
26 XRD
(RINT UltimaU)
X線回折 リガク 下村 小山 村上 10F 半日
27 NMR
(JNM-AL300)
核磁気共鳴装置 日本電子 田中康 田中康 平田 イノベ 1時間
 


 

機器一覧 ナノデバイス作製・評価センター


 
No. 機器名(型番) 機器・用途 メーカー アドバイザ 担当 サブ担当 設置部屋 課金単位
1 薄膜XRD
(RINT Ultima III)
粉末・薄膜のX線回折 リガク 下村 小山 下村 ナノデバイス 半日
2 白金・カーボンコーター
(SC701C)
SEM用コート サンユー 友田 友田 三宅 ナノデバイス 1時間
3 FE-SEM
(JSM-6320F)
高分解能表面形態観察 日本電子 村上 友田 三宅 ナノデバイス 半日
4 広域AFM
(XE-70)
Z軸応答範囲12μmの表面観察 パークシステムズ 石川 三宅 石川 ナノデバイス 半日
5 分析FE-SEM
(JSM-7001F)
高分解能表面形態観察、元素分析、結晶相解析 日本電子 村上 友田 三宅 ナノデバイス 2時間
6 FIB
(JIB-4500)
イオンビーム加工 日本電子 坂元 坂元 下村 ナノデバイス 半日
7 ラマン
(NRS-7100)
可視光による物質同定 日本分光 友田 高澤 友田 ナノデバイス 半日
8 FT-IR
(FT/IR-6300,IRT-7000)
赤外線で物質同定・マクロ、顕微、マッピング 日本分光 友田 高澤 友田 ナノデバイス 半日
9 イオンスライサー
(EM-09100 IS)
TEM用試料を作製 日本電子 坂元 高橋 坂元 ナノデバイス 1時間
10 UV-Vis分光光度計
(V-670)
紫外-可視光による物質同定 日本分光 村上 高澤 友田 ナノデバイス 半日
11 蛍光分光
(FP-8600, FP-8700)
蛍光を用いた定性・定量 日本分光 川井 高澤 友田 ナノデバイス 半日
12 XPS
(AXIS ULTRA DLD)
光電子による表面原子同定 島津 下村 三宅 友田 ナノデバイス 半日
13 STEM
(JEM-2100F)
走査・透過電顕 日本電子 坂元 高橋 坂元 ナノデバイス 半日
        

機器配置図


総合研究棟(1F(101-104号室)、10F(1010号室)

 



ナノデバイス作製・評価センター      

バナースペース

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FAX 053-478-1020